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　　殘余奧氏分析儀比以往歷代殘余應(yīng)力分析儀較快速、精度較高，提供的數(shù)據(jù)較可靠。XstressDR45的檢測速度和準(zhǔn)確性使殘余應(yīng)力測量方面大大*出了實驗室范圍，并進(jìn)入了生產(chǎn)線。直觀、簡捷的界面的，全新支持軟件與全新技術(shù)相結(jié)合，可提供的工作效率。
 

　　殘余奧氏分析儀的主要特點：
 

　　1、可測奧氏體220/311、鐵素體200/211的衍射峰值強(qiáng)度，符合ASTME975-03國際標(biāo)準(zhǔn)；
 

　　2、多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向帶來的影響；
 

　　3、使用精密的自動反饋控制電路獲得*的X射線發(fā)生器穩(wěn)定性；
 

　　4、自動調(diào)整高電壓與電流輸出脈動值；
 

　　5、配備大功率、上等的玻璃(陶瓷)X射線管；
 

　　6、高聚焦單毛細(xì)管準(zhǔn)直器，高分辨率CCD探測器。
 

　　在許多工業(yè)生產(chǎn)加工過程中，對殘余奧氏體含量的控制非常嚴(yán)格，精確測量其含量，對于鋼鐵熱處理過程中產(chǎn)品特性和質(zhì)量的控制有重大意義。因為化學(xué)蝕刻和傳統(tǒng)金相研究存在靈敏度和準(zhǔn)確度較低的情況，所以無法做到工業(yè)生產(chǎn)中對殘余奧氏體的精確測量，而X射線衍射法可以測量低至0.5%的殘余奧氏體含量，故ASTM頒布E975標(biāo)準(zhǔn)方法：X射線法測量近無規(guī)結(jié)晶取向鋼中殘余奧氏體的含量，AreXD正是根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計開發(fā)。